LCP-25 Élipsométer Ékspérimén
Bubuka
Polarimeter elips manual ngagunakeun metode punah pikeun ngukur ketebalan sareng indéks réfraktif pilem, sareng sacara manual ngatur sudut simpangan sareng simpangan tina prosés tés. Ellipsometry seueur dianggo dina ngukur pilem ipis diéléktrik dina substrat padet. Dina cara ngukur kandel pilem, éta tiasa diukur kana paling ipis sareng presisi pangluhurna.
Spésifikasi
| Katerangan | Spésifikasi |
| Jangkauan Pangukuran Kandel | 1 nm ~ 300 nm |
| Rentang sudut Kajadian | 30º ~ 90º, Kasalahan ≤ 0.1º |
| Sudut Persimpangan Polarizer & Analyzer | 0º ~ 180º |
| Skala Sudut Cakram | 2º per skala |
| Min. Bacaan Vernier | 0,05º |
| Jangkungna Pusat optik | 152 mm |
| Diaméter Panggung Kerja | Φ 50 mm |
| Sakabéh Diménsi | 730x230x290 mm |
| Beurat | Kira-kira 20 kg |
Daptar Bagéan
| Katerangan | Qty |
| Unit Ellipsometer | 1 |
| Anjeunna-Ne Laser | 1 |
| Panguat Photoélectric | 1 |
| Cell Poto | 1 |
| Silika Film dina Silicon Substrate | 1 |
| Analisis Software CD | 1 |
| Pitunjuk Pitunjuk | 1 |
Tulis pesen anjeun didieu teras kirimkeun ka kami
